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韩国镀层膜厚仪

起批量
1

产品属性

品牌
其他
型号
Pioneer XRF-2000
工作原理
X射线测厚仪
用途
镀层测厚仪
测量范围
钛(Ti) – 铀(U)
加工定制
产地
中国
  • 韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度. 可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U) 可测量厚度范围:原子序22-25,0.1-0.8μm 26-40,0.05-35μm 43-52,0.1-100μm 72-82,0.05-5μm X-射线管:油冷,超微细对焦高压:0-50KV(程控) 准直器:固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm 自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm 综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层. 定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. 统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

规格参数
型号 Pioneer XRF-2000    测量范围 钛(Ti) – 铀(U)  (mm)
产地 中国   品牌 其他  
工作原理 X射线测厚仪    用途 镀层测厚仪  
加工定制 否      
包装参数
体积(m²)
产品重量(kg)
代理商供货
退换货规则说明
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